ЦЕНТР КОЛЕКТИВНОГО КОРИСТУВАННЯ НАУКОВИМ ОБЛАДНАННЯМ при Інституті фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України “Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем”

Центр колективного користування науковим обладнанням

Сканувальний зондовий мікроскоп NanoScope IIIa Dimension 3000TM

eqp.c9yjy7

Опубліковано

01 січня 1996 р.

16 червня 1997 р.

США

використовується за призначенням (роботоздатне), є фахівці, які забезпечують роботу і обсулговування приладу

Дослідження фізичних властивостей поверхонь на мікро/нанорівні:<br /> - атомно-силова мікроскопія і спектроскопія; <br /> - магнітна та електростатична мікроскопія;<br /> - силова Кельвін-зонд мікроскопія;<br /> - провідна та ємнісна мікроскопія (картографування та локальні ВАХ і ВФХ);<br /> - наноіндентування і картографування пружних властивостей поверхонь;<br /> - нанотрібологія та зносостійкість;<br /> - елементи нанолітографії (механічна та електрична) і наноманіпуляцій;

ІНСТИТУТ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ ІМЕНІ В.Є.ЛАШКАРЬОВА НАЦІОНАЛЬНОЇ АКАДЕМІЇ НАУК УКРАЇНИ