ЦЕНТР КОЛЕКТИВНОГО КОРИСТУВАННЯ НАУКОВИМ ОБЛАДНАННЯМ при Інституті фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України “Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем”

Центр колективного користування науковим обладнанням

Прецизійний аналізатор напівпровідників Agilent 4156C, прецизійний LCR- вимірювач Agilent 4284A та оптичний мікроскоп Axioskop 2 MAT

eqp.zg5j5x

Опубліковано

01 січня 2004 р.

01 січня 2005 р.

США

використовується за призначенням (роботоздатне), є фахівці, які забезпечують роботу і обсулговування приладу

Вимірювальний комплекс для експресного контролю напівпровідникових матеріалів і нанорозмірних приладів<br /> електрофізичні дослідження напівпровідникових структур в режимах постійного та змінного струму;<br /> на постійному струмі: вольт-амперні характеристики (діапазон напруг - 0.01 - 200 В, діапазон струмів - 10 пА - 20 мА);<br /> на змінному струмі (діапазон частот 50 Гц - 1 МГц):<br /> вольт-фарадні характеристики;<br /> адмітансна спектроскопія (G, C vs. V, T);<br /> імпедансна спектроскопія (R, X vs. V, T);<br /> цифрова оптична мікроскопія: світле та темне поле, поляризаційний контраст, люмінесценція, диференційно-інтерференційний контраст.

ІНСТИТУТ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ ІМЕНІ В.Є.ЛАШКАРЬОВА НАЦІОНАЛЬНОЇ АКАДЕМІЇ НАУК УКРАЇНИ