Мікроскопічні та спектроскопічні методи дослідження поверхні твердих тіл
Центр колективного користування науковим обладнанням
Інформація про обладнання
Назва обладнання
низьковакуумний скануючий мікроскоп JSM-6390LV , енергодисперсійний спектрометр X-maxN , детектор дифракції зворотнорозсіянних електронів HKL Channel 5 EBSD , Система комплексної прецизійної пробопідготовки зразків для електронної мікроскопії Leica EM TXP
Ідентифікатор
eqp.c9nj0w
Статус
Опубліковано
Дата виробництва
13 серпня 2007 р.
Дата придбання
29 грудня 2007 р.
Країна виробник
Японія, Великобританія, Німеччина
Стан наукового обладнання/устаткування
використовується за призначенням (роботоздатне), є фахівці, які забезпечують роботу і обсулговування приладу
Функціональне призначення обладнання
електронно-мікроскопічні дослідження морфології, визначення локального складу,<br />
мікротекстури та ідентифікації фаз кристалів, кераміки, сплавів, плівок, покриттів тощо<br />
Установа власник
ІНСТИТУТ МОНОКРИСТАЛІВ НАЦІОНАЛЬНОЇ АКАДЕМІЇ НАУК УКРАЇНИ